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放電能力在安規(guī)測(cè)試中有何影響? |
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來(lái)源:富士特電氣 人氣:2641 發(fā)布時(shí)間:2012-06-09
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幾乎所有的待測(cè)物皆具有電容性,當(dāng)直流測(cè)試時(shí)會(huì)有電容充電現(xiàn)象。為避免測(cè)試人員發(fā)生電氣危害,在測(cè)試結(jié)束時(shí)須有電路進(jìn)行放電至規(guī)范電壓值,而電容性愈高放電時(shí)間愈久,直接影響到生產(chǎn)的流暢性。優(yōu)良的安規(guī)測(cè)試設(shè)備具有可靠且快速的放電電路,為生產(chǎn)者帶來(lái)經(jīng)濟(jì)效益。
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